MVTec 3D-AD(RGB + 点云工业异常,2022)
2022
通用工业检测
数据集介绍
MVTec 3D-AD 由 MVTec Software GmbH 于2021年发布(VISAPP 2022),是工业 3D 视觉异常检测领域的第一个综合性基准数据集。使用高分辨率工业级 3D 传感器采集10类对象的深度点云与对应 RGB 图像,训练集仅包含无缺陷正常样本,测试集包含多种缺陷类型(划痕、凹陷、孔洞、污染、形变等)并附精确像素级标注。该数据集在无监督 3D 异常检测与多模态(RGB+点云)异常检测领域成为事实标准基准,至今已有大量 CVPR、ICCV、NeurIPS、ECCV、ICML 等顶会论文在其上评测,推动了从传统特征工程到深度学习再到基础模型等多代方法的发展。
基本信息
| 行业 | 通用工业检测 |
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| 任务 | anomaly_detection |
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| 模态 | image,point_cloud |
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| 频率档 | — |
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| 采样率 | — |
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| 真实度 | real_lab |
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| 访问门槛 | open |
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| 质量评分 | ★★★★★ |
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| 采用度 | high |
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| 数据形态 | image_with_signals |
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| 是否多模态 | 是 |
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| 规模 | 10 物体类别,4,000+ 扫描,像素级 GT mask |
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| License | open |
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推荐理由
唯一公开 RGB + 3D 点云工业异常基准,CVPR 23/24 后续论文事实标准。
使用该数据集的代表论文
CVPR 2024, 2024 — Alex Costanzino, Pierluigi Zama Ramirez, Giuseppe Lisanti, Luigi Di Stefano
提出跨模态特征映射框架,轻量高效,在 MVTec 3D-AD 上达到 SOTA 且推理速度更快
CVPR 2024, 2024 — Wenqiao Li et al.
提出 IMRNet 和 Anomaly-ShapeNet 合成基准,MVTec 3D-AD 为主要对比数据集
CVPR 2024, 2024 — Ankan Kumar Bhunia et al.
利用 2D-3D 对齐实现更精准的多模态异常检测,在 MVTec 3D-AD 上评测
ECCV 2024, 2024 — Various
首次将扩散模型引入 3D 异常检测重建框架,MVTec 3D-AD 为核心基准
NeurIPS 2024, 2024 — Qihang Zhou, Jiangtao Yan, Shibo He, Wenchao Meng, Jiming Chen
基于 CLIP 的零样本 3D 异常检测,MVTec 3D-AD 上 I-AUROC 从 61.2% 提升至 82.0%
CVPR 2023, 2023 — Yue Wang, Jinlong Peng, Jiangning Zhang, Ran Yi, Yabiao Wang, Chengjie Wang
提出 M3DM,用点特征对齐(PFA)融合 RGB 与点云特征,在 MVTec 3D-AD 上超越此前 SOTA
ICML 2023, 2023 — Yue Chu, Zhichao Sun, Shengjun Liu, et al.
提出形状引导双记忆学习框架,MVTec 3D-AD 为主要评测数据集
WACV 2023, 2023 — Paul Bergmann, David Sattlegger
(3D-ST)基于深度几何描述子的 student-teacher 框架,MVTec 3D-AD 核心评测